【演講】10/11(五)_X光非破壞檢測技術於半導體3D IC應用實例與挑戰
研究所【專題討論】課程，電機系專題演講，演講資訊如下:
講題: X光非破壞檢測技術於半導體3D IC應用實例與挑戰
演講者: 樓修成 博士 / 晶舟科技國際有限公司創辦人CEO、和鑫生技開發股份有限公司 董事長特助
時間：113年10月11(五)14:00~16:00
地點：理工二館一樓第二講堂 (B101)
歡迎各位師生踴躍參加!
講題: X光非破壞檢測技術於半導體3D IC應用實例與挑戰
演講者: 樓修成 博士 / 晶舟科技國際有限公司創辦人CEO、和鑫生技開發股份有限公司 董事長特助
時間：113年10月11(五)14:00~16:00
地點：理工二館一樓第二講堂 (B101)
歡迎各位師生踴躍參加!